材料测试方法扫描电镜SEM详解课件.pptVIP

由于透射电镜是TE进行成像的，这就要求样品的厚度必须保证在电子束可穿透的尺寸范围内。为此需要通过各种较为繁琐的样品制备手段将大尺寸样品转变到透射电镜可以接受的程度。能否直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像，成为科学家追求的目标。经过努力，这种想法已成为现实-----扫描电子显微镜(Scanning Electronic Microscopy, SEM)。 JEOL扫描电子显微镜图片来源：深圳柯西数据公司 图片来源：深圳柯西数据公司 图片来源：深圳柯西数据公司 图片来源：深圳柯西数据公司 扫描电子显微镜 (scanning electronmicroscope)简称扫描电镜或SEM，它是以