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一种基于特征对比的缺陷检测方法及系统、存储介质，其中缺陷检测方法包括：获取待检测物体的检测图像和所述待检测物体对应的标准品的基准图像；对所述检测图像和所述基准图像分别进行图像特征的编码处理，提取得到各自对应的高级特征；将所述高级特征通过特征的差分和组合处理，得到组合特征图像；利用所述组合特征图像对所述检测图像进行缺陷分割，得到所述待检测物体的缺陷特征。由于依据待检测物体的检测图像和待检测物体对应的标准品的基准图像来对检测图像进行缺陷特征的检测，使得检测图像和基准图像之间能够方便地进行特征对比，从
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 111696092 A
(43)申请公布日
2020.09.22
(21)申请号 20201
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