CESA-2021-3-007《特定场景下的微控制器低功耗水平评价方法》团体标准（征求意见稿）编制说明.pdfVIP

中国电子工业标准化技术协会 编制说明 一、工作简况 2021年中国电子技术标准化研究院启动了团体标准《特定场景下的微控制器 低功耗水平评价方法》的研制工作，该标准由中国电子工业标准化技术协会下达 立项通知，立项号CESA-2021-3-007。任务下发后，由中国电子技术标准化研究 院牵头，起草单位包括中国电子技术标准化研究院、南京低功耗芯片技术研究院 有限公司、无锡中感微电子股份有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、北 京芯可鉴科技有限公司、南京邮电大学、上海灵动微电子股份有限公司等单位， 归口单位为中国电子工业标准化技术协会和中国电子技术标准化研究院。 2、主要工作过程： （一）标准预研 为指导特定场景下的微控制器低功耗水平测试，2021年1月由中国电子技术 标准化研究院牵头，联合微控制研制单位，结合实际应用情况，进行了调研和分 析，初步确定了特定场景下的微控制器低功耗水平测试方案，明确了后续相关的 工作内容，包含测试方法、测试工具及测试内容三大板块。。 2021年3月15 日，召开第一次标准研讨会，明确依据ULPMark基准测试的原 理，根据我国现有微控制低功耗水平，确立微控制器功耗测试方法的原理及过 程，通过便携测试装置测试现有微控制器低功耗值，为方便全国所有研制单位测 试奠定基础，不必再需要高精度测量设备，如果需要仲裁测量值及溯源便携装 置，需要使用高精度测量设备。 2021年4月15日-2021年4月16日，召开第二次标准研讨会，明确特定场景下 的微控制器低功耗水平测试的测试场景，分为为静态测试、动态测试及间态测 试，共三个章节。主要原因是因为低功耗微控制器长期处于电池供电状态，其工 作时间较短，休眠时间较长，并且在两个状态转换间消耗的电流较大。 中国电子工业标准化技术协会 2021年6月4 日，召开第三次标准研讨会，明确三个大类：静态功耗、动态功 耗及间态功耗，各个测试大类有不同的专注点，每个大类又可以分为若干小类或 直接细化到测试项目，具体如下表： 表1 测试项目专注点 类型 测试区域专注点 基础静态功耗 静态测试 内容保持功耗 Always-On 区域功耗 基础动态功耗 微控制 密集计算功耗 器芯片 动态测试 密集IO 功耗 模拟信号采集功耗 拓展存储器访问功耗 间态测试 唤醒功耗测试 （二）标准立项 2021年6月9 日，标准牵头单位中国电子技术标准化研究院，联合南京低功耗 芯片技术研究院有限公司、无锡中感微电子股份有限公司、北京兆易创新科技股 份有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、南京邮电大学、上海灵动微电子股份有 限公司等单位在中国电子工业标准化技术协会内正式申请立项，并通过评审。 （三）标准编制 2021年8月12日，召开第四次标准研讨会。讨论了被测芯片在测试时应处于 的工作状态，测试所使用的固件应存储于被测芯片内部的非易失性存储器中，测 试电路中除被测芯片及必要的阻容、晶振等无源器件外不应有其它结构及电气连 接。测试过程中，不得由测试装置以外的设备控制被测芯片或与其通讯。 并且进一步规定了参与测量的部分主要模块，具体有： a）内核； b）内存； c）GPIO； d）UART； e）SPI； f）ADC； 中国电子工业标准