基于参比校准的长余辉均相检测材料、检测方法及系统.pdfVIP

基于参比校准的长余辉均相检测材料、检测方法及系统.pdf

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本发明公开了基于参比校准的长余辉均相检测材料,包括长余辉检测体系,长余辉检测体系用于检测待检测物,包括供体标记物和受体标记物,其中,供体标记物包含敏化剂,受体标记物缓存剂和发光剂;该材料还包括参比物质,用于引入到供体标记物和/或受体标记物中,对待检测物的检测结果进行校准;长余辉检测体系与参比物质不发生能量传递,参比物质发光波长与长余辉检测体系发光波长存在波长差异。并且公开了对应的检测方法及检测系统;当采用一种参比物质引入供体标记物和/或受体标记物中,可以实现对环境因素和仪器设备因素的校准;当基于

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116660225 A (43)申请公布日 2023.08.29 (21)申请号 202310599959.0 G01N 33/58 (2006.01)

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