一种三维测量装置和测量方法.pdfVIP

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本发明公开了一种三维测量装置和方法,该三维测量装置包括:至少一个投影装置,用于发射结构光条纹;旋转反射模块,至少包括一个第一反射镜和一个第二反射镜;第一反射镜用于将结构光条纹反射至待测物体表面;第二反射镜用于对待测物体表面反射的变形条纹进行反射;第一反射镜和第二反射镜沿旋转轴旋转;至少一个成像装置,用于接收第二反射镜反射的变形条纹;第一反射镜和第二反射镜中的至少一个的反射面至少包括不共面的第一反射面和第二反射面;第一反射面位于第二反射面远离投影装置的一侧;第一反射面朝向背离反射面的一侧偏转,第二

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116659413 A (43)申请公布日 2023.08.29 (21)申请号 202310655462.6 (22)申请日 2023.06.05 (71)申请人 上海飞机制造有限公司 地址 20

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