一种芯片高压测试装置.pdfVIP

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  • 2023-08-31 发布于四川
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本实用新型公开了一种芯片高压测试装置,包括箱体,所述箱体的顶部转动设置有盖板,所述盖板与箱体的连接处设置有转轴,所述盖板的顶部固定连接有把手,所述盖板的顶部固定连接有连接件,所述连接件的顶部设置有按压球,所述按压球的一端固定连通有气管。本实用新型提供的一种芯片高压测试装置具有,通过转动旋钮,旋钮控制驱动盒内的双向螺杆进行转动,使套设在双向螺杆上的滑块驱动夹板根据芯片的大小进行夹持,因芯片检测的尺寸范围是固定的,可调性不高,不便于对尺寸不同的芯片进行压力测试,而夹板与驱动盒的设置,可以提高芯片检测

(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 219608641 U (45)授权公告日 2023.08.29 (21)申请号 202321169969.2 (22)申请日 2023.05.16 (73)专利权人 西安天光测控技术有限公司 地址

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