一种用于芯片测试的吸附台.pdfVIP

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2023-09-06 发布于四川
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一种用于芯片测试的吸附台.pdf

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本实用新型涉及一种用于芯片测试的吸附台，包括吸附台本体，所述吸附台本体的一端横向设置有加热棒安装孔及热电偶安装孔，吸附台本体的前侧壁设置有气路槽，吸附台本体的另一端设置有与真空泵相连接并连通气路槽的吸气通道，吸附台本体的前侧还设置有封盖气路槽并可升降调节的挡板，所述挡板与吸附台本体之间沿横向间隔竖向设置有若干个与气路槽相连通并用于吸附芯片的真空泵吸气孔。该吸附台可以对芯片进行高低温测试。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 210347687 U (45)授权公告日 2020.04.17 (21)申请号 20192