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一种用于三维荧光光谱的关键点特征提取方法，包括以下步骤：步骤1.根据三维荧光光谱的三维投影图中各等高线的空间分布特征，确定其中关键点所处的具体位置，过程为：寻找包含关键点的最小关键区域，该区域边界由等高线组成，再确定其中关键点的具体位置，即三维坐标；步骤2，利用提取出的关键点特征，构建LIBLINEAR线性回归模型，实现对物质种类的分类预测。本发明根据三维荧光光谱的三维投影图中各等高线的空间分布特征，提取出关键点的三维坐标，并结合LIBLINEAR技术构建线性回归预测模型，有效解决了传统特征提取
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116698802 A
(43)申请公布日 2023.09.05
(21)申请号 202310594790.X G06V 10/24 (2022.01)
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