xrf光谱仪原理参考资料.docx

xrf光谱仪原理 ｜XRF基本原理｜ X射线荧光光谱（XRF）是一种确定物质中元素的种类和含量的表征手段，又称X射线次级发射光谱分析。其基本原理如图1，在一定的条件下，当入射X射线将微粒激发至高能态时，为保持整个体系的稳定，高能态的电子会向低能态跃迁，同时辐射出被激发微粒的特征X射线。而不同微粒被激发产生的特征X射线的能量和波长是不同的，这是确定物质中元素种类和含量的基本依据。 图1? X射线荧光光谱原理示意图 图2 常见XRF测试仪器 ｜XRF基本结构｜ XRF分析仪器一般由以下几个部分构成，分别是：X射线发生器、分光检测系统、数据分析系统。 XRF X射线发生器 图3 X射线发生器结构示意图 XRF 分光检测器 图4 分光检测器结构示意图 XRF 数据分析系统 现阶段国内外XRF仪器的数据分析软件主要以理论分析模型为基础，最基本的理论有以下几种： ■??莫塞莱定律(Moseley’s law) 反映各元素X射线特征光谱规律的实验定律。莫塞莱研究从铝到金的38种元素的X射线特征光谱K和L线，得出谱线频率的平方根与元素在周期表中排列的序号成线性关系。表明X射线的特征光谱与原子序数是一一对应的，使X荧光分析技术成为定性分析方法中最可靠的方法之一。 ■??布拉格定律(Bragg’s law) 反映晶体衍射基本关系的理论推导定律，1912年英国物理学家布拉格父子（W.H. Bragg和