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横向剪切干涉二维波前重建技术研究的中期报告 横向剪切干涉（Lateral Shearing Interferometry，简称LSI）技术是一种通过对两束光的干涉取得光波前差异信息的光学检测方法，常见的LSI应用包括光学元件质量检测和精密表面形貌测量等领域。 近年来，LSI技术在波前重建领域的应用越来越受到研究者的关注，其中横向剪切干涉二维波前重建技术（Lateral Shearing Interferometry Two-dimensional Wavefront Reconstruction，简称LSI-TWR）是一种新型的波前重建方法。 本研究的中期目标是深入探究LSI-TWR技术的原理、特点及其应用，同时开展相关实验以验证该技术的可行性和有效性。 首先，我们通过对LSI-TWR的原理和特点进行分析，发现该技术具有如下优点： （1）无需复杂的光路和设备，只需要一个简单的LSI检测系统即可实现波前重建； （2）不受被测物体物理形态的限制，适用于各种复杂形状表面的波前重建； （3）可同时获取表面形貌和相位信息，提高了波前重建的准确性。 接着，我们进行了一系列实验，利用LSI-TWR技术对标准平面和球形表面进行波前重建。实验结果表明，该技术可以有效地获取表面形貌和相位信息，且测量误差相对较小，验证了该技术的可行性和有效性。 进一步的研究内容包括对LSI-TWR技术的优化，比如提高波前重建的速度和精度等，同时也将重点关注该技术在光学元件制造和表面形貌检测等领域的应用。