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- 2023-09-16 发布于四川
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本发明提供了一种MicroLED像素化方法,包括:提供待像素化的半导体发光结构,半导体发光结构包括依次堆叠于生长衬底表面的第一半导体层、发光层及第二半导体层;通过邦定材料将半导体发光结构邦定至支撑基板表面,并去除生长衬底;根据预先配置的像素单元,在半导体发光结构表面形成相应的掩膜材料;对未覆盖掩膜材料区域的半导体发光结构进行干法刻蚀,在半导体发光结构中形成预设深度的沟槽;去除掩膜材料,并对形成有沟槽的半导体发光结构进行湿法刻蚀直至露出邦定材料,完成对半导体发光结构的像素化过程,在支撑基板表面形成
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116759497 A
(43)申请公布日 2023.09.15
(21)申请号 202311006293.X
(22)申请日 2023.08.11
(71)申请人 晶能光电股份有限公司
地址 33
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