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本发明公开了一种防误判AOI检测方法及系统，方法包括步骤：利用图像识别算法获取COG产品两面上的第一灰尘坐标区域；利用AOI设备获取COG产品的第一缺陷检测图像，并将第一灰尘坐标区域从第一缺陷检测图像中剔除，获取第二缺陷检测图像；对第二缺陷检测图像进行AOI检测。通过在AOI检测时首先对COG产品进行物理清灰，然后利用图像识别算法获取COG产品两面上的灰尘坐标区域并灰尘坐标区域从第一缺陷检测图像中剔除，避免了AOI设备因灰尘误判，提高检测准确性和产品良率。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116758014 A
(43)申请公布日 2023.09.15
(21)申请号 202310628727.3
(22)申请日 2023.05.30
(71)申请人 信利半导体有限公司
地址 516
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