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本发明涉及光伏组件用结构技术领域，具体为一种半导体晶片表面的测试装置，包括测试桌、测试台、测试框、第一丝杆滑台、移动板、测试机构、分拣机构和两个滑槽，所述测试框安装在测试台的顶部，所述第一丝杆滑台水平设置在测试桌的顶端，所述移动板安装在第一丝杆滑台的移动端上，所述测试机构和分拣机构间隔设置在测试桌的顶部，所述测试机构包括升降架、第二丝杆滑台、调节板、测试架、翻转板、翻转电机、清理组件、两个竖杆、两个液压推杆、两个翻转轴和两个测试组件。本发明测试组件未采用连接绳来进行角度调节，避免发生连接绳断裂无
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116779498 A
(43)申请公布日 2023.09.19
(21)申请号 202311067784.5 F16H 57/04 (2010.01)
(22)申请日 2023.08.
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