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本发明涉及玻璃质量检测技术领域，具体涉及一种用于仪器表盘的玻璃质量检测方法，该方法包括：利用光学手段获取仪器表盘玻璃表面的可见光图像记为待分析图像，提取图像中的直线得到待分析线段，并将待分析图像划分为固定大小的块区域；根据块区域内待分析线段的数量得到第一系数，根据块区域内待分析线段之间的距离获取第二系数，根据块区域内待分析线段的长度得到第三系数，进而得到缺陷程度指标；根据缺陷程度指标得到缺陷异常矩阵，对缺陷异常矩阵进行分解得到特征值；根据特征值以及特征值的数量得到质量检测指标；根据质量检测指标得
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116777921 A
(43)申请公布日 2023.09.19
(21)申请号 202311080850.2
(22)申请日 2023.08.25
(71)申请人 南通睿智超临界科技发展有限公司
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