测试阻变随机访问存储器件的数据保持特性的方法[发明专利].pdfVIP

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2023-09-21 发布于北京
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测试阻变随机访问存储器件的数据保持特性的方法[发明专利].pdf

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专利内容由知识产权出版社提供专利名称：测试阻变随机访问存储器件的数据保持特性的方法专利类型：发明专利发明人：刘力锋,张浩 ,高滨,康晋锋,刘晓彦,王漪,韩汝琦申请号：CN201010275600.0 申请日公开号：CN1024 03044A 公开日：201204 04 摘要：本发明公开了一种测试RRA M器件的数据保持特性的方法，包括以下步骤：a)控制样品台的温度，将 RRA M器件保持为预定的温度；b)将 RRA M器件设置为高阻态或低阻态；c)向RRA M器件施加预定的测试电压，使其发生电阻态失效，以测量数据保持时间；d)重复步骤a)-c) ，进行多次测量；e)利用多次测量的数据保持时间，计算出RRA M器件的电阻态失效概率F(t) ；以及f)对电阻态失效概率F(t)进行拟合，并利用拟合得到的参数进一步计算出预期数据保持时间t 。优选地，利用电压加速和温度加速相结合预测RRA M器件的数据保持时间。该测试方法可以准确且快速地评估 RRA M器件的数据保持特性。申请人：北京大学地：100871 北京市海淀区颐和园路5号国籍：CN 代理机构：中科专利商标代理有限责任公司代理人：王波波更多信息请下载全文后查看