HPM6750 MCU片内16位ADC的精度进行全面测试.docVIP

HPM6750 MCU片内16位ADC的精度进行全面测试 ADC的主要参数指标分为静态参数和动态参数两类，基于这两类指标，本文将对先楫半导体HPM6750 MCU片内16位ADC的精度进行全面测试，一起看看结果怎么样。 ADC参数测试原理 1、ADC参数 国内16位SAR型ADC芯片目前较少，MCU内置16位SAR型ADC的则更少。如何衡量ADC的性能，参考S*公司带有16位ADC的MCU芯片S**32H750手册，分为静态参数、动态参数两部分，如表 1.1、表 1.2所示。 静态参数主要有差分非线性（DNL）、积分非线性（INL），衡量ADC测量直流及低频信号时的性能。 表 1.1 ADC的静态参数（S**32H750） 动态参数主要有有效位数（ENOB）、信噪失真比（SINAD）、信噪比（SNR）、总谐波失真（THD），衡量ADC测量交流动态信号时的性能，例如测试1KHz正弦波。 表 1.2 ADC的动态参数（S**32H750） 1.2 IEEE1241标准 IEEE1241对ADC器件的指标参数和测试方法进行定义，是一种为ADC器件厂家制定的标准。ADI和TI等厂家的独立ADC芯片、MCU厂家的片内ADC，均遵循该标准的方法，进行静态参数和动态参数的测试。 IEEE1241于2000年发布，较新的版本为IEEE1241-2010。ADC测试评估的主要任务是确定其电压传输关系，理想情况下输入电压与ADC输出代码中点的传输关系是一条直线，每个输出代码的宽度相同。实际的电压传输关系不同于理想情况，IEEE1241标准给出了几种可选的测试步骤和方法。一种方法是使用斜坡电压信号，通过复杂的伺服环路系统，使用比被测ADC分辨率高得多的DAC，精确步进，得到被测ADC各个LSB的实际跳变电压。 另一种方法是使用正弦波信号，该信号必须具有比被测ADC预期信噪失真比（SINAD）至少高20 dB的总谐波失真和噪声。例如，一个理想16位ADC具有98dB的信噪比（SNR），假设没有失真，那么SINAD就为98dB。要想对该ADC进行测试，要求使用一个-118dB以上THD+N的正弦波信号。该低失真正弦信号，可以通过多阶带通滤波器实现，硬件相对简单。因此使用正弦波信号，是目前主要的ADC测试方法。 EEE1241标准的各章节中，给出了基于正弦波信号和统计直方图，实现静态参数DNL、INL，动态参数ENOB、SINAD、SNR、THD的测试方法和计算公式。 【6.4节】给出ADC电压传输关系的测试方法。使用一个幅度稍微超过ADC测量范围的纯正正弦波，输入到ADC，获取多个连续的采样数据并统计直方图，由公式（27）计算电压传输关系。 其中，T[k]是第k个二进制代码对应的电压值，Hc[k-1]是累计直方图，S是总采样点数。该节还给出了正弦波频率和ADC采样频率的选择，每次采集的数据点数，总的采集数据点数，正弦波幅度过载量要求。 【7.4.1节】给出增益误差G、失调电压Vos的测试方法和计算公式，基于对T[k]的最小二乘法拟合。 【8.2节】给出积分非线性INL的测试方法。测量值T[k]校正增益和失调误差之后，与理想值Tnom[k]相减，它们的差值代入公式（40），计算输出码k处的积分非线性ε[k]。 由公式（40）将LSB单位的INL，换算成百分比形式。 【8.4节】给出差分非线性DNL的测试方法，由公式（43）计算。当DNL[k]＜0.9时，输出码k被定义为缺失码（missing code）。 【8.8节】给出总谐波失真THD的测试方法。ADC 对周期信号进行采样时，动态误差和积分非线性都会导致谐波失真，总谐波失真用于量化此类影响。总谐波是指一组目标谐波分量的均方根值（二次、三次等）与所施加信号均方根值的比值，由公式（50）计算。 该节给出了目标谐波的次数要求，由输入正弦波的最低9个谐波组成，包括第2次到第10次。用于计算的采样数据中，应该包含整数个输入正弦波周期，以最小化频谱泄漏，例如10个整周期。 【9.2~9.4节】给出SINAD、SNR、ENOB的测试方法。将指定频率和幅度的纯正正弦波输入到ADC，首选幅度接近满量程的大信号，但是不能出现削波（例如95%FS信号）。首先计算噪声和失真NAD，通过计算测量数据波形的DFT频谱，从频谱中删除直流和测试频率处的分量后，所有剩余傅立叶分量的和方根是NAD，由公式（67）计算。 通过将NAD和Arms代入公式（66），计算SINAD。 通过将NAD、Arm、THD代入公式（69）和（68），计算SNR。 通过将NAD代入公式（70），计算ENOB。其中εQ是理想的量化误差rms值，等于LSB/√12。 根据IEEE1241标准的以上计算过程和公式，编写科学计算软件代码，可以实现各参数的测量。