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本发明公开了一种相位调制器半波电压测试系统及方法，所述系统依次设有窄线宽激光器、相位调制器、FP干涉仪、光电探测器、示波器，所述相位调制器的输入端还连接有信号发生器，所述FP干涉仪的输入端还连接有干涉仪控制器；所述方法为信号发生器产生单音正弦信号，经过射频信号调制后，相位调制器PM输出光谱，干涉仪控制器生成锯齿波驱动电压，FP干涉仪出射光束，示波器显示激光器中心波长和边带光谱干涉信号；本发明的优点在于：通过调节信号发生器输出正弦信号幅值，可以使得相位调制器输出光谱中心波长或这某一阶边带幅值为0，
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116804686 A
(43)申请公布日 2023.09.26
(21)申请号 202310921729.1
(22)申请日 2023.07.26
(71)申请人 合利科技发展有限公司
地址 10
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