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一种基于单片机控制与差分运算电路采样的LM317芯片故障检测电路及方法.pdfVIP

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  • 2023-09-27 发布于四川
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一种基于单片机控制与差分运算电路采样的LM317芯片故障检测电路及方法.pdf

    本发明公开了一种基于单片机控制与差分运算电路采样的LM317芯片故障检测电路及方法，属于电子技术领域。本发明提供的LM317芯片故障检测电路操作简单，连接方便，只需将待检测的LM317芯片插入连接底座便可检测；能够高效直观、方便简单地检测一个LM317芯片是否存在故障；使用这样的电路，可以在使用LM317芯片前，检测其是否已存在故障；可以在含有LM317的电路出现故障时，判断故障是否是由LM317芯片损坏而造成，方便排除电路故障。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 109061437 A (43)申请公布日 2018.12.21 (21)申请号 20181

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