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本实用新型涉及电子元器件测试设备技术领域，具体为一种使用方便的电子元器件测试装置，包括测试座、铰链与检测盖，检测盖中部设有压板，测试座上设有指槽，测试座滑动连接有承载台，承载台底部设有凹槽，凹槽内设有升降杆，升降杆与支撑板固定连接，支撑板下方设有弹簧，支撑板和弹簧均位于基座筒内，基座筒固定在测试座的空腔底面，承载台滑动连接有检测板，检测板上设有检测顶针，且检测板下端固定连接有检测仪器，承载台上端放置有电子元器件，有益效果：电子元器件直接放在承载台上并盖合检测盖进行检测，完成后弹簧在形变的作用力下
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 210572517 U
(45)授权公告日
2020.05.19
(21)申请号 20192
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