原创力文档- 13
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- 2023-09-30 发布于四川
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本发明属于材料细分领域，一种X射线单晶衍射实验的高角度衍射数据非高斯偏差的校正方法包括：对斑点坐标系K(h，k，l)的衍射斑点W进行强度分布的校正；校正后，一个强度弥散的衍射斑点W校正为强度集中的衍射斑点W＇；通过直接积分I总＝∫f总(x,y)dxdy(其中,f(x,y)为斑点W在各坐标点位置点(x，y)的强度计算出总强度I总；通过高斯函数拟合出背景(其中a、c为拟合参数)，并通过积分I背景＝∫f背景(x,y)dxdy计算I背景；根据I信号＝I总‑I背景计算出校正后的I信号，本发明通过将分散的衍
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 115963130 A
(43)申请公布日 2023.04.14
(21)申请号 202211703390.X
(22)申请日 2022.12.29
(71)申请人 中国科学院福建物质结构研究所
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