基于双光梳欠采样和双偏振马赫曾德尔调制器的频率和波达角测量方法.pdfVIP

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2023-09-30 发布于四川
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基于双光梳欠采样和双偏振马赫曾德尔调制器的频率和波达角测量方法.pdf

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本发明公开了基于双光梳欠采样和双偏振马赫曾德尔调制器的频率和波达角测量方法,该发明涉及光通信技术领域和微波技术领域，应用于信号的频率测量与波达角测量。所述方法如说明书附图1所示，包括天线1、天线2、锁模激光器MLL1、锁模激光器MLL2、直流源DC、低噪放大器LNA1、低噪放大器LNA2、光耦合器OC、双偏振马赫增德尔调制器DPol‑MZM、偏振控制器PC、偏振分束器PBS、光电探测器PD1、光电探测器PD2、低通滤波器LPF1、低通滤波器LPF2、模数转换器ADC、数字信号处理模块DSP。锁模

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116827427 A (43)申请公布日 2023.09.29 (21)申请号 202210284301.6 (22)申请日 2022.03.22 (71)申请人西安电子科技大学地址 7100