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基于路径延迟惯量的路径延迟测试方法的中期报告 摘要： 路径延迟测试是一项重要的集成电路测试方法，旨在检测潜在的集成电路故障。本文中，我们提出了一种基于路径延迟惯量的路径延迟测试方法。该方法旨在通过利用延迟惯量对电路路径中的故障进行分类和诊断。我们将在测试芯片中实现该方法，并对所提出的方法进行性能评估，以证明其在检测电路故障方面的有效性。 介绍： 路径延迟测试是一种广泛使用的测试集成电路的方法。在路径延迟测试中，电路的输入和输出都被观察，并且测试模式是经过预定义的步骤生成的。为了定位故障，我们需要对每个路径的延迟进行分析，并识别任何不正常的行为。如果路径延迟延迟比预期更长或更短，则可以确定路径上的故障。发现故障后，我们可以采取适当的措施来修复电路。 在我们的方法中，我们试图利用路径延迟测试的延迟惯量来分类和诊断电路路径中的故障。延迟惯量可以衡量电路中一段路径变化时延迟变化的量。延迟惯量分为正惯量和负惯量。正惯量表示当路径上的信号从低电平变为高电平时，路径延迟延迟增加的量。负惯量则表示当路径上的信号从高电平变为低电平时，路径延迟延迟增加的量。路径延迟测试中的延迟惯量可以帮助我们了解电路中的偏差情况，并为我们提供用于检测故障的信息。 在我们的方法中，我们首先对路径进行分析，并计算正负延迟惯量。然后，我们使用这些惯量值来创建类别，在每个类别中识别相同类型的故障。最后，我们将执行诊断过程，