一种用于半导体硅片的练选测试装置.pdfVIP

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2023-10-09 发布于四川
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一种用于半导体硅片的练选测试装置.pdf

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本实用新型涉及半导体测试技术领域，公开了一种用于半导体硅片的练选测试装置，所述第一固定板的上表面开设有定位槽，且第一固定板的上表面靠近定位槽的一侧设置有放置板，所述定位槽的内部嵌入安装有定位杆，所述第一固定板的一侧固定安装有清洁组件，且第一固定板的一侧设置有测试主机，所述测试主机的一侧开设有滑槽，所述滑槽的内部活动安装有测试连接头，且滑槽的下方设置有限位组件，在第一固定板的一侧设置有清洁组件，可以有效的将半导体硅片在放进与拿出第一固定板时将其表面进行清洁，清除半导体硅片表面杂质，将限位组件安装在

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 210626425 U (45)授权公告日 2020.05.26 (21)申请号 20192