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本申请公开了一种FPGA中的可配置互连节点的测试方法，涉及FPGA技术领域，该测试方法将全芯片中的所有待测的可配置互连节点以及相应的辅助通路模型化为一张包含顶点和有向边的完整的有向图，基于图论以覆盖率为驱动的方法遍历搜寻测试通路以得到覆盖率达标的测试用例，该方法以FPGA内互连资源的相互结构构建的有向图为基础来建立测试用例，而并不基于特定的芯片架构，且得到的测试通路都是简单的从一个信号输入端经过若干条互连线和可编程互连点后到达一个信号输出端，测试向量即是在这些测试通路的起点施加激励并在终点处得到
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116859224 A
(43)申请公布日 2023.10.10
(21)申请号 202310830706.X
(22)申请日 2023.07.07
(71)申请人 无锡中微亿芯有限公司
地址 21
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