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导电聚合物薄膜电阻率测量系统的设计 导电聚合物材料的电学特性是通过掺杂来控制其电阻率来改变的。因此精确测 量导电聚合物的电阻率具有重要意义。半导体工业中普遍使用四探针测量仪测 量无机半导体材料的电阻率。面导电聚合物属于有机半导体材料，导电机理不 同，且电阻率区间跨度较大（为10-3-1010。-0（11）0使用四探针测量仪无法满 足应用要求。目前，进行较高电阻率测量时可以按照国标（GB3048. 3—83）方法 搭建测量电路。但是，该方法对样品的外形有严格要求，电路搭建费时、耗 力；激励电压大小难于掌控，电压过小影响测量精度，电压过大会导致较大的 电流，可能影响样品特性，且过高的电压危险性很大。为了避免压片、塑型等 前处理过程，也为了在宽范围内准确、安全地测量，这里进行了必要的改进。 1测量原理 1. 1四探针电阻测量法 四探针法可以减小接触电阻利导线电阻的影响。采用恒压激励信号Vs 代替原本在1和4探针间的恒流信号。如图1所示。 图1 改进的直坎型四探针测量法示意图图 图1 改进的直坎型四探针 测量法示意图 图2 匕F N量法的 电路实现 通过样品的电流： M =凡 + +Ri? (1) (2) 式中：Rw为导线电阻；Ret为针脚（1, 4）接触电阻；R14为样品电阻。 为了求得样品电流I,需要通过其他途径得到总电阻Rx。在此引入比率 测量法。如图2所示。 传输函数： 心一副陋