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本发明涉及一种基于双轴旋转的多阶磁梯度张量的测量方法，包括以下步骤：分析各阶磁梯度张量独立分量组成；推导利用旋转调制法求解全部磁梯度张量分量所需的条件；建立双轴旋转法测量磁梯度张量模型；利用仿真验证双轴旋转法的正确性。本发明解决现有方法中，当使用一个圆盘构建旋转式张量仪时，所需测量姿态随着磁梯度张量阶数的增加而增加，无法实现连续动态测量的问题。其最大优点是仅使用单一圆盘即可连续动态测量多阶磁梯度张量，且圆盘运动轨迹和个数不随阶次增长；该方法以旋转调制法为核心，使用单一圆盘绕两个正交轴连续旋转的方
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116879811 A
(43)申请公布日 2023.10.13
(21)申请号 202310889357.9
(22)申请日 2023.07.19
(71)申请人 吉林大学
地址 130012
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