原创力文档- 1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
- 2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
- 3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
- 5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次， 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本发明涉及光学膜生产用膜厚检测装置领域，公开了一种高品质光学膜生产用膜厚检测装置，包括底架，底架的上端左侧固定连接有支架，底架上方左右两侧固定安装有支撑座，左右两侧的支撑座之间连接安装有膜卷绕组件，膜卷绕组件包括转动安装在左右两侧支撑座之间的主动辊、从动辊和压辊，主动辊、从动辊和压辊呈等腰三角形分布且相互平行设置，使传输状态的光学膜依次贴合并传输，压辊位于最上方，左右两侧的支撑座上端之间连接安装有厚度测量组件。相较于现有技术，本申请利用光的干涉对膜进行测量，排除了膜内空气以及杂质等因素导致的测量
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116878397 A
(43)申请公布日 2023.10.13
(21)申请号 202310587670.7
(22)申请日 2023.05.24
(71)申请人 安徽亿年半导体有限公司
地址 2
文档评论（0）