一种基于ST2500测试机的MCU存储器测试方法.pdfVIP

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2023-10-14 发布于四川
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一种基于ST2500测试机的MCU存储器测试方法.pdf

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本发明请求保护一种基于ST2500测试机的MCU存储器测试方法，包括以下步骤：①通过被测MCU的IIC接口设计协议解析模块。②设计测试模式，利用MCU芯片IIC接口进行测试指令以及数据的传输，将MCU作为IIC从机，并采用中断触发机制，测试机发送激活序列使MCU处于复位状态。③激活MCU，若接收到正确的模式代码，则进入存储器测试模式，MCU芯片内部TEST_MODE信号有效，变为高电平。④MCU芯片根据地址数据以及测试数据写入存储器对应的区域，以进行存储器的写数据测试。⑤MCU根据地址数据将对应

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116881061 A (43)申请公布日 2023.10.13 (21)申请号 202310993272.5 (22)申请日 2023.08.08 (71)申请人重庆邮电大学地址 400065