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基于BIST的FPGA内部延时故障测试方法的研究与应用的中期报告 本次研究主要针对FPGA内部延时故障进行测试，采用BIST进行测试，借助BIST的内部结构将测试逻辑嵌入设计中，通过BISR技术对FPGA的部分或全部可编程逻辑单元进行测试。本文分为四部分，分别为引言、相关工作、研究内容和进展以及下一步工作计划。 一、引言 FPGA的出现使硬件设计变得更加灵活和方便，但由于它的可编程性使得FPGA中的逻辑单元之间的相互影响变得更加复杂，FPGA的故障也随之变得多样化。FPGA的内部延时故障是一种常见的故障类型，并且该故障往往不会被主要的测试技术（如功能测试和电气测试）检测到。因此，针对FPGA内部延时故障进行测试变得越来越重要。 二、相关工作 对于FPGA内部延时故障测试的研究已经有了一定的发展，其中BIST技术是一种有效的测试方法。目前已有学者建立了基于BIST的FPGA内部延时故障测试平台，实现了该方案的可行性。此外，也有学者通过BISR技术实现了FPGA内部延时故障测试。 三、研究内容和进展 本次研究旨在探究基于BIST的FPGA内部延时故障测试方法。研究内容包括BIST测试的基本流程和技术原理、测试资源的设计和测试算法的开发。目前已经完成了BIST测试资源和测试算法的设计以及实现，并在模拟器上进行了测试验证。测试结果表明，在模拟器上实现的BIST测试方法可以有效检测到FPGA内部延时故障。 四、下一步工作计划 接下来的工作计划是将该BIST测试方法应用到实际的FPGA中，并实现完整的测试流程。同时，还需要对该方法进行进一步的优化和改进，提高测试覆盖率和测试效率，并探究不同FPGA架构之间的适应性差异。最终的目标是建立一个可靠有效的FPGA内部延时故障测试方法，为FPGA的设计和制造提供更加可靠的保障。