低温封接玻璃粉体电阻率测试方法.docxVIP

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  • 2023-10-26 发布于浙江
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ICS XX.XXX.XX X XX 团 体 标 准 T/CSTM XXXXX-201X 低温封接玻璃粉体电阻率测试方法 Test method for volume resistivity of Low-temperature sealing glass power (征求意见稿) 201X-XX-XX 发布 201X-XX-XX 实施 发布中关村材料试验技术联盟 发布 T/CSTM XXXXX—2020 I T/CSTM XXXXX—2018 1 T/CSTM XXXXX-2020 PAGE 5 T/CSTM XXXXX—2020 PAGE 4 低温封接玻璃粉体电阻率测试方法 警示——使用本文件的人员应有正规实验室工作的实践经验。本文件并未指出所有可能的安全问题。使用者有责任采取适当的安全和健康措施,并保证符合国家有关法规规定的条件。 范围 本文件规定了低温封接玻璃粉体电阻率测试的术语和定义、测试原理、测试仪器、样品准备、测试步骤、数据处理的方法。 本文件适用于低温封接玻璃粉体电阻率测试,其他类似材料的体电阻率测试可参照使用。 规范性引用文件 本文件没有规范性引用文件。 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 体电阻 volume resistance RV 试样的两相对表面上

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