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本发明提出了基于离子阱对样品进行淌度分析的方法、离子阱质谱仪及其用途。基于离子阱对样品进行淌度分析的方法包括：对待测样品进行离子化处理，以获得所述待测样品的多个待测离子；使多个所述待测离子进入离子阱；对所述待测离子进行AC振幅线性扫描，以令所述待测离子的一部分自所述离子阱中脱离；使探测器获取所述脱离所述离子阱的所述待测离子，以便获得所述待测样品的分析结果。该方法可以利用离子阱质谱仪实现高分辨率的淌度分析，适于分析复杂的生物、化学大分子同分异构体，且实施方式简单，利用微型离子阱质谱仪即可实现待测样
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116930306 A
(43)申请公布日 2023.10.24
(21)申请号 202310686382.7
(22)申请日 2023.06.09
(71)申请人 清华大学
地址 100084
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