面向低功耗目标的测试压缩技术和多时间帧扫描测试方法的设计的中期报告.docxVIP

面向低功耗目标的测试压缩技术和多时间帧扫描测试方法的设计的中期报告 一、研究背景和目的 随着数字集成电路技术的不断发展，芯片设计规模不断扩大，设计的复杂性和面积逐渐增加。同时，低功耗技术在移动设备、嵌入式系统和数据中心等应用领域得到广泛应用，成为了数字集成电路设计的重点和难点。而在芯片的设计过程中，测试是必不可少的环节，它能够验证芯片设计的正确性，保证芯片质量。因此，如何在保证测试精度和可靠性的前提下，降低测试的成本和功耗，成为了当前研究的重点。 为了实现此目标，传统的测试方法已经无法满足需求，需要探索新的测试技术。压缩测试技术是其中的一种，它能够提高测试容易性、降低测试时间和芯片的测试成本，但同时也会增加芯片的测试功耗。因此，压缩技术需要与低功耗测试技术相结合，才能更好地应对现有的测试需求。然而，当前的测试技术还面临着多种挑战，如测试数据是否能够准确反映芯片故障、如何处理存储器的测试、如何压缩测试数据等问题。因此，本研究将探索如何设计面向低功耗目标的测试压缩技术和多时间帧扫描测试方法，以提高测试效率和降低芯片的测试功耗。 二、研究内容 本研究将开展以下工作： 1. 设计面向低功耗目标的测试压缩技术。本研究将研究如何设计一种低功耗的测试压缩技术，该技术可以在保证测试效率和精度的同时，大幅度降低测试功耗。具体而言，本研究将探索一种新的测试压缩技术，该技术可以对测试数据进行高效的压缩，并在解压过程中最小化测试功耗。 2. 设计多时间帧扫描测试方法。目前的芯片测试方法多采用扫描测试技术，但是传统的扫描测试技术只能测试一个时间帧，测试效率较低，反映不出芯片的实际使用情况。因此，本研究将设计一种多时间帧扫描测试方法，能够有效地测试芯片在实际使用中的性能。具体而言，该方法将采用多种测试技术配合，提高测试效率和芯片测试的灵活性。 3. 实验验证。本研究将在FPGA平台上进行实验验证，测试压缩技术和多时间帧扫描测试方法的可行性和有效性。 三、预期结果 本研究预期实现以下结果： 1. 设计一种低功耗的测试压缩技术。本技术可以在保证测试效率和精度的同时，大幅度降低测试功耗。 2. 设计一种多时间帧扫描测试方法。该方法采用多种测试技术配合，能够有效地测试芯片在实际使用中的性能。 3. 验证了设计的测试压缩技术和多时间帧扫描测试方法的可行性和有效性。