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熔融双窗宽带光分路器EL与PDL的实验研究的中期报告
一、研究背景
熔融双窗宽带光分路器是一种用于分离光信号的光电器件，广泛应用于光通信、光传感和光学计量等领域。其中，EL（Excess Loss，过剩损耗）和PDL（Polarization Dependent Loss，偏振相关损耗）是评价其性能指标的重要参数。本研究旨在通过实验研究，探索熔融双窗宽带光分路器的EL和PDL特性及其影响因素，提高其性能和应用效果。
二、研究内容
本研究采用实验方法，对不同结构参数的熔融双窗宽带光分路器进行测试，并对实验结果进行统计分析，得出如下结论：
1.结构参数对EL和PDL的影响
（1）光纤长度：随着光纤长度的增加，EL和PDL都会逐渐增加，并呈现出先缓慢后快的趋势。
（2）光纤直径：对于相同长度的光纤，直径越细，EL越低，PDL越高。
（3）反射镜的反射率：反射率越高，EL越低，PDL越高。
2.温度对EL和PDL的影响
实验结果表明，随着温度的升高，EL和PDL都会明显增加。这是由于温度会引起光纤材料本身的形变和光学性能的变化，从而影响光分路器的性能。
三、研究成果与展望
本中期报告初步探究了熔融双窗宽带光分路器的EL和PDL特性及其影响因素，并对其性能做了一些分析和探讨。但还需要进一步研究，以更深入地了解其性能和应用。未来我们将继续进行实验和理论研究，进一步优化其结构和制备工艺，提高其性能和应用效果。
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