采样控制方法、装置及系统.pdfVIP

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  • 2023-11-04 发布于四川
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本发明提供一种采样控制方法、装置及系统,涉及光谱采集领域,该方法包括:采样控制方法基于采样控制装置实现,采样控制装置分别连接移位单元及采样探测单元,移位单元连接运动镜。采样控制方法包括:确定与待采样单元相对应的目标光谱分辨率;根据待采样单元的单元属性,确定目标扫描模式;重复执行循环步骤,指示获取待采样单元相对应的所有数据,直至达到预设次数;根据傅里叶变换处理所有数据,获取待采样单元的目标光谱信息。本发明针对不同待采样单元的不同单元属性,确定不同扫描模式,根据不同待采样单元的光谱分辨率及对应扫描模

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116990236 A (43)申请公布日 2023.11.03 (21)申请号 202311240198.6 (22)申请日 2023.09.25 (71)申请人 中国科学院空天信息创新研究院 地址

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