一种用于光电耦合器多点温度测试系统.pdfVIP

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2023-11-08 发布于四川
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一种用于光电耦合器多点温度测试系统.pdf

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本发明涉及光电耦合器温度测试技术领域，具体为一种用于光电耦合器多点温度测试系统，包括耦合器测试预处理模块、高温测试模块、常温测试模块、低温测试模块、测试分析模块和执行终端。通过对光电耦合器进行高温运行测试，得到光电耦合器对应设定时段中高温测试的运行参数，并由此对光电耦合器对应设定时段中高温测试的高康值进行分析，直观地反映了光电耦合器在高温下的运行情况，为后续光电耦合器对应的多点温度测试结果提供了有效的数据支撑，同时对高温状态下光电耦合器表观的温度进行均匀检测，大幅度提升了光电耦合器温度稳定评估指

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117007883 A (43)申请公布日 2023.11.07 (21)申请号 202310902620.3 (22)申请日 2023.07.21 (71)申请人深圳群芯微电子有