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本申请提供一种SOC芯片调试装置和调试方法，涉及SOC芯片调试技术领域，所述装置包括：调试访问模块和调试处理模块，其中：所述调试访问模块连接测试接口、配置网络和所述调试处理模块；所述调试访问模块用于在确定具备调试权限的情况下，通过所述测试接口接收仿真调试设备的调试指令，并将所述调试指令发送至所述调试处理模块以进行系统调试，或通过所述配置网络访问其他IP寄存器以进行系统调试或ATE测试；所述调试处理模块用于执行所述调试指令以进行SOC芯片的调试。本申请可实现ATE测试与多核系统调试电路复用，提高对
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117007938 A
(43)申请公布日 2023.11.07
(21)申请号 202310736525.0
(22)申请日 2023.06.20
(71)申请人 海宁奕斯伟集成电路设计有限公司
地
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