- 7
- 0
- 约2.69万字
- 约 23页
- 2023-11-11 发布于四川
- 举报
本申请公开了一种硅片打码方法、装置、系统及存储介质,所述方法包括:当检测到打码机台的第一载物台出现待打码硅片时,获取硅片打码位置需求;根据所述硅片打码位置需求,确定所述硅片的打码位置标准,其中,所述位置标准至少规定了打码区左上侧与硅片中心轴距离,打码区左下侧与硅片中心轴距离,打码区底侧与硅片边缘距离,以及打码区底侧与面幅上边缘距离中的一种预设指标对应的取值区间;根据所述位置标准确定所述待打码硅片中的打码区位置;根据所述待打码硅片中的打码区位置对所述待打码硅片进行打码操作。采用本方案,可以自动确定
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117020430 A
(43)申请公布日 2023.11.10
(21)申请号 202311054582.7
(22)申请日 2023.08.21
(71)申请人 万华化学集团电子
您可能关注的文档
- 高速信号传输线缆用复合梅花芯线.pdf
- 一种大跨度钢结构屋面吊装施工方法.pdf
- 高速信号传输线缆用梅花芯线.pdf
- 高速信号传输线缆.pdf
- 一种消费物品信息查询的系统、方法、储存介质及移动终端.pdf
- 一种不对称的PTFE多孔膜及其制备方法与用途.pdf
- 一种不对称的聚四氟乙烯多孔膜及其制备方法与用途.pdf
- 锂离子电池组的远程控制方法和系统.pdf
- 告警微服务节点的归并处理方法、装置、电子设备及介质.pdf
- 一种病理诊断显微镜及其观察方法.pdf
- 哈尔滨工业大学《建筑设计(五)》2023-2024学年第一学期期末试卷.doc
- GB-T 35273-2017 信息安全技术个人信息安全规范.pdf
- GB/T 17940.1-2026半导体器件 集成电路 第3-1部分:模拟集成电路 单片集成运算放大器空白详细规范.pdf
- 中国国家标准 GB/T 48460.1-2026微细气泡技术 家庭应用 第1部分:基于气泡粒径和浓度评价微细气泡花洒性能的测试方法.pdf
- 《GB/T 17940.1-2026半导体器件 集成电路 第3-1部分:模拟集成电路 单片集成运算放大器空白详细规范》.pdf
- 《GB/T 48460.1-2026微细气泡技术 家庭应用 第1部分:基于气泡粒径和浓度评价微细气泡花洒性能的测试方法》.pdf
- GB/T 48460.1-2026微细气泡技术 家庭应用 第1部分:基于气泡粒径和浓度评价微细气泡花洒性能的测试方法.pdf
- 中国国家标准 GB/T 17940.1-2026半导体器件 集成电路 第3-1部分:模拟集成电路 单片集成运算放大器空白详细规范.pdf
- 2026--2027学年河北省石家庄市第二中学高二上学期暑期摸底调研数学试题-含答案.docx
- 皖2004J208 SF防水保温屋面构造.docx
原创力文档

文档评论(0)