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- 2023-11-11 发布于四川
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本发明提供了一种新型薄膜量子产率测试装置及其量子产率测试方法，该装置和方法以光电效应为基础，在超高真空的环境下，通过LED光源发射紫外光照射样品表面，利用光学积分球收集光电子并转化为电信号输出，使用静电计实现高分辨率电信号的采集和处理，并通过积分球和静电计之间的源表施加偏置电压来调控光电流的大小，最后由光电流降低到零时所需的正偏压得到样品表面的功函数，根据外加偏置电压作用下的饱和光电流以及标定的表面紫外光强度得到样品的量子产率。本发明实现超高真空环境下光电流的精密测量，能够很好地满足薄膜表面量子
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117030797 A
(43)申请公布日 2023.11.10
(21)申请号 202311058628.2
(22)申请日 2023.08.22
(71)申请人 兰州大学
地址 730000
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