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一种超高精度AI微细孔缺陷检测方法.pdfVIP

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  • 2023-11-15 发布于四川
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一种超高精度AI微细孔缺陷检测方法.pdf

    本发明涉及缺陷检测的领域，公开了一种超高精度AI微细孔缺陷检测方法，包括光信息传输部件、升降部件以及旋转部件，所述光信息传输部件包括遮光筒，所述遮光筒内设置有镜头，所述镜头的顶端安装有相机，所述镜头的底端安装有底套，所述底套的下方位置处设置有四根导光柱，每根所述导光柱的底端一侧设置有平面透镜，所述导光柱底端的另一侧设置有反射镜，所述导光柱顶端外侧套有遮光罩，所述导光柱上紧邻遮光罩下方外面为磨砂面，所述导光柱上紧邻磨砂面的下方处设置有锥形进光面，通过在镜头底端的底套设置四组导光柱、平面透镜、反射镜

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117054443 A (43)申请公布日 2023.11.14 (21)申请号 202311204564.2 (22)申请日 2023.09.19 (71)申请人 苏州鼎甄智能科技有限公司 地址

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