场发射扫描电子显微镜.docxVIP

（一）场发射扫描电子显微镜（SEM）送样须知 应用范围： 固体样品的微观形貌、结构，样品的微区元素成份及线分布、面分布，广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、热能、地球科学、环境、光电子等领域。 ☆ 粉末、微粒样品形态的测定； ☆ 金属、陶瓷、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、农作物、细胞等材料的显微形貌分析； ☆ 复合材料界面特性的研究； ☆ 材料中元素定性分析、定量分析、线分析、面分析； ☆ 材料及电子器件失效分析。来样须知： ☆ 样品中不得含有铁（Fe）、钴(Co)、镍(Ni)； ☆ 样品不得具有磁性，并且不易被磁化； ☆ 样品中不得含有水分； ☆ 样品粉末状为宜，形状不规则样品需加工表面整洁，厚度小于0.5cm； ☆ 多孔类或易潮解的样品，请提前真空干燥处理； ☆ 样品应具有导电性，若样品不导电，需要进行镀金导电膜的处理。检测项目： ☆ 表面形貌观察； ☆ 微区元素分析； 可以检测的元素范围 B5～U92。 可以检测微区元素的线分布、面分布。提供 EDS 数据分析处理。 （二）激光粒度分析仪（PCS）送样须知 应用范围： ☆ 测量纳米颗粒的粒径，同时给出粒径的分布； ☆ 应用于纳米材料、生物分子（如蛋白质、脂质体）、化工产品、食品、农业化学品、日用化学品、制药等领域。 来样须知： ☆ 样品应该为澄清溶液，溶液中无肉眼可见的絮状物或漂浮物； ☆ 样品浓度不低于 0.