基于扫描结构的低功耗测试方法研究的中期报告.docxVIP

基于扫描结构的低功耗测试方法研究的中期报告 摘要 随着芯片制造工艺的不断进步，门级测试已经失去其对系统级可靠性评估的重要性，因为单个故障的影响已经变得很小。因此，测试的重点已经转向了芯片内的软故障，例如传输故障和功能故障。但是，软故障测试需要更多的测试资源，这增加了芯片测试的成本和测试时间。为了克服这个问题，本文提出了一种基于扫描结构的低功耗测试方法。该方法利用扫描结构和低功耗模式对芯片进行测试，在最大限度地降低功耗的同时，保持测试精度。实验结果表明，该方法可以在减少测试时间的同时提高测试精度。 关键词：扫描结构，低功耗测试，软故障测试，芯片测试 引言 随着半导体技术的发展，芯片制造工艺的制造密度不断增加，芯片尺寸变小，功耗变得越来越低。因此，在制造过程中，芯片的可靠性已成为一个关键的问题。门级测试已经失去其对系统级可靠性评估的重要性，因为单个故障的影响已经变得很小。因此，测试的重点已经转向了芯片内的软故障，例如传输故障和功能故障。但是，软故障测试需要更多的测试资源，这增加了芯片测试的成本和测试时间。 解决这个问题的方法之一是开发一种低功耗测试方法。在低功耗测试中，采用某些方法来最大限度地降低芯片测试过程中的能耗。这样，可以在确保测试精度的同时，降低成本和测试时间。本文提出了一种基于扫描结构的低功耗测试方法。该方法利用扫描结构和低功耗模式对芯片进行测试，在最大限度地降低功耗的同时，