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本发明提供了一种驱动控制组件及老化设备，涉及芯片测试技术领域，本发明中，驱动控制组件中的控制箱和驱动箱之间可拆卸固定连接，老化设备通过老化箱与控制箱、驱动箱的分体组装方式实现，因此方便老化设备的移动组装；驱动箱中的多层驱动组件采用竖向层叠式结构且彼此独立，因此驱动组件的使用灵活，易于容量扩展，且可靠性高，方便故障处理调节；每层驱动组件用于驱动老化箱中的一个老化板，并为相应老化板提供所需老化测试需求对应的多种电源，因此每层驱动组件可以适配不同电压等级的老化测试需求；驱动箱通过多层驱动组件适配不同老
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 117110838 A
(43)申请公布日 2023.11.24
(21)申请号 202311100507.X
(22)申请日 2023.08.29
(71)申请人 上海季丰电子股份有限公司
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