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* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * acer model keycap drop off Prepare by: Elva Ji Approved By: Jane Cui/May Li 2011-09-27 緯創客戶回饋AM機種掉鍵不良，以下為Darfon接到客戶回饋掉鍵的資料統計: 1.對不良鍵位進行層別，top3分別為: 方向鍵、功能鍵、周邊倍數鍵 集中在方向鍵與功能鍵 Keycap drop off data analyze 2. 對对掉键的初步分析原因層別，top1为重组OK，此部分集中在方向键与功能键 3.對各鍵位掉鍵原因進行層別如下: Conclusion: 按键位层别掉键原因: 分析結果近70%為重裝OK， 鍵帽及PLG無異常，30%為組裝壓壞。 Keycap drop off data analyze 掉鍵不良 方法不當 原材料不良 包裝方式不良 Sup尺寸超規 PLG尺寸超規 不良現象 一次因 二次因 組裝不良 PLG壓壞 Keycap尺寸超規 尺寸不良 三次因 Keycap壓壞 水滴孔壓壞 滑槽壓壞 內圈壓壞 外圈柱子壓壞 設計缺陷 結構分析 不利於組配 對用戶端回饋高不良的功能鍵掉鍵從各方面進行分析如下 Keycap drop off analyze 1.尺寸分析 1）對功能鍵的鋁板，鍵帽，PL