闪存芯片老化测试方法、装置、设备及介质.pdfVIP

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2023-12-02 发布于四川
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闪存芯片老化测试方法、装置、设备及介质.pdf

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本发明实施例提供了一种闪存芯片老化测试方法、装置、设备及介质，该方法包括：接收用户操作指令，根据用户操作指令从预设的测试模式库中获取目标测试模式；从预设的常驻内存中获取与目标测试模式对应的内存块；根据目标测试模式及用户操作指令中的单个写入文件参数在闪存芯片中创建第一目标文件；将内存块中存储的数据信息按预设的单位数据量依次写入第一目标文件，得到第二目标文件；对第二目标文件进行校验得到校验结果；若校验结果为校验成功，则释放常驻内存并获取下一目标测试模式以持续对闪存芯片进行老化测试。本发明实施例可基于

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 117153230 A (43)申请公布日 2023.12.01 (21)申请号 202311179010.1 (22)申请日 2023.09.12 (71)申请人东莞忆联信息系统有限公司地址