芯片测试电路及测试设备.pdfVIP

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2023-12-02 发布于四川
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本实用新型实施例提供了一种芯片测试电路及测试设备，涉及芯片测试技术领域。其中，该芯片测试电路连接在供电单元与待测单元之间，包括：与所述供电单元连接的DC‑DC电源单元、与所述DC‑DC电源单元连接的LDO电源单元、与所述LDO电源单元连接的测量采样单元；其中，所述LDO电源单元的反馈端与所述DC‑DC电源单元相连，以对所述DC‑DC电源单元稳压输出的电压进行调节，使得所述输入电压与所述输出电压之间的压差在设定范围内。本实用新型所述的一种芯片测试电路，输入电压范围大，输入电压与输出电压之间的压差小

(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 220120936 U (45)授权公告日 2023.12.01 (21)申请号 202320747120.2 (22)申请日 2023.03.31 (73)专利权人深圳市辰卓科技有限公司地址