瓦里安 ICP-干扰及背景校准【PPT】培训课件.ppt

Interference

BackgroundCorrection

干擾及背景校正ICP-OES為相對量測方法(RelativeMethod)常見干擾(1)常見干擾(2)化學(Chemical)干擾 ICP-OES由於電漿之高溫,因此為相對化學干 擾較不嚴重之檢測方法常見干擾(3)常見干擾(4)光譜(Spectral)及/或背景(Background)干擾 其他同時存在元素之發射光譜太接近分析物光譜或背景發射強度變化而影響定 量分析克服物理干擾內標準法(1)

InternalStandardMethod選擇內標準品條件(1)選擇內標準品條件(2)選擇內標準品條件(3)結果說明(1)結果說明(2)內標準品添加方法1.事先於所有樣品及標準品中加入---技術！！！2.於第三泵通道中直接吸入標準添加法

StandardAdditionMethod標準添加法(1)標準添加法(2)標準添加法檢量線圖標準添加法規劃範例克服離子化干擾光譜干擾-影響常見光譜干擾源克服光譜干擾克服背景干擾單點校正

Off-PeakBC兩點(Linear)

Off-PeakBCPolynomialPlottedBackgroundCorrection(PPB)於波峰左右兩邊各取六