一种利用红外谱特征峰法测量固体表面孔隙率的方法.pdfVIP

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2023-12-13 发布于四川
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一种利用红外谱特征峰法测量固体表面孔隙率的方法.pdf

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本发明涉及固体表面孔隙率测量技术领域，且公开了一种利用红外谱特征峰法测量固体表面孔隙率的方法，包括以下步骤：步骤一，准备若干已知表面孔隙率且表面孔隙率不相同的固体样；步骤二，将固体样的表面孔隙用填充剂填充；步骤三，利用红外光谱特征法对填充填充剂后的固体样进行测量；步骤四，统计具有不同孔隙率的固体样的红外谱填充剂特征峰峰面积的差异规律，建立孔隙率方程；步骤五，计算孔隙率。本发明采用上述方法，操作简单、快速且测试环境在室温下能够进行，能够避免对样品的污染和伤害；能够进行微区测量，测量范围广；数据处理

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117214065A

(43)申请公布日2023.12.12

(21)申请号202311259369.X

(22)申请日2023.09.27

(71)申请人兰州大学

地址730000

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