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本申请的一种交叠结构的电容库创建方法，包括如下步骤：确定与交叠结构对应的采样参数，所述采样参数用于指示所述交叠结构的结构信息，所述采样参数至少包括独立参数，所述独立参数的取值范围与其他采样参数的取值相互独立；基于所述采样参数，获取所述交叠结构的至少一个采样模式；创建所述电容库中所述至少一个采样模式对应的采样电容值。本申请的交叠结构的电容库创建方法、交叠结构的电容获取方法、设备及介质采用包括独立参数的采样参数，因此能保证独立参数的独立性，从而能创建更加完整的电容库，且提高电容获取的效率和准确率。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117217160A
(43)申请公布日2023.12.12
(21)申请号202311468146.4
(22)申请日2023.11.07
(71)申请人杭州行芯科技有限公司
地址31
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