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化学键与分子结构;§2-1离子键理论;一、离子键的特点

1.离子键的本质是库仑静电作用力

F=q+q-/R2

q+、q-为离子所带电荷,R为离子核间距。

离子键强度是用晶格能来描述的。;1.晶格能U:1mol离子晶体解离成自由气态离子

时所吸收的能量。

U=-Vr0=[NAZ+Z-e2(1-1/n)]/4??0r0

?Z+Z-/r0

N、A为常数，n与电子构型有关，Z+Z-为正

负离子电荷数。;2.晶格能的应用：

a.可以比较离子键的强度和晶体的稳定性。

晶格能越大，晶体的熔点越高，硬度越大，

热膨胀系数越小。压缩系数越小。

b.由于离子化合物中存在一定的共价成分，实

验晶格能往往比理论计算值大，实验值比计

算值大的越多，说明化合物中存在更多的共

价成分。;2.离子的电子构型

简单负离子一般最外层具有稳定的8电子构型。

正离子：2电子构型Li+Be2+

8电子构型Na+K+Ca2+

18电子构型Cu+、Ag+、Zn2+、Cd2+、Hg2+

18+2电子构型Pb2+、Sn2+、B