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导电型原子力显微镜的研制和应用研究的开题报告

一、选题背景

原子力显微镜（AtomicForceMicroscope，AFM）是20世纪80年代发展起来的一种新型显微镜。与传统的电子显微镜或光学显微镜相比，AFM可以在原子、分子尺度下实现表面形貌、表面力谱、计算机图像等多功能的表面分析技术和成像技术，能够获得高分辨率和高灵敏度的信息，而且对于黑色、透明、生物等复杂材料的表征也具有优势。因此，AFM在纳米材料科学、生物医学、材料制备、纳米加工、量子信息等领域已经得到广泛应用，具有非常良好的发展前景。

然而，AFM也存在着一些局限性，例如不能直接测量电学性质，尤其在纳米器件制备、器件性能评价等领域，需要综合评价电学性质和表面形貌，以实现对器件性能的有效评估。因此，发展导电型AFM是一个非常有意义的课题，既可以克服AFM的局限性，又可以提高其在纳米加工、生物医学和纳米器件领域的应用效果。

二、研究目标

本研究的主要目标是：

1.研制一种新型导电型AFM系统，实现对电学性质的有效测量和表征。

2.利用自行研制的导电型AFM系统对不同材料表面的形貌、力谱和电学性质进行研究和分析，为纳米材料科学、生物医学和器件制备等领域提供有效的分析手段。

三、研究内容和方法

1.研制一种新型导电型AFM系统：设计制作导电探针和样品台，改进AFM控制系统，实现对电流信号的采集和处理。

2.基于自行